Simplification of selective imaging of dislocation loops: diffraction-selected on-zone STEM
https://www.tandfonline.com/doi/full/10.1080/09500839.2024.2321134

学術論文：Simplification of selective imaging of dislocation loops: diffraction-selected on-zone STEM

特許：電子銃による照射電流量の推定方法、推定装置、試料の厚さの算出方法、および析出物の数密度の算出方法

（登録番号：7487383）